近紫外辐照对OSR二次表面镜导电性能影响研究

近紫外辐照对OSR二次表面镜导电性能影响研究

文章研究了近紫外辐照试验前后OSR二次表面镜的电学性能变化规律,利用扫描电子显微镜(SEM)和X射线光电子能谱仪(XPS)对近紫外辐照后的涂层表面形貌和成分进行了分析,进而探讨了近紫外辐照对OSR二次表面镜导电性能变化机理.研究发现,OSR二次表面镜的表面电阻率随着紫外辐照度的增加而指数减小,氧空位吸附氧的解析、In-O键的断裂和氧空位的增加是近紫外辐照OSR二次表面镜表面电阻率降低,导电性能增强的主要原因.

作 者： 沈自才 赵春晴 冯伟泉 丁义刚 刘宇明 郑慧奇 赵雪   作者单位： 北京卫星环境工程研究所,北京,100094  刊 名： 航天器环境工程  ISTIC 英文刊名： SPACECRAFT ENVIRONMENT ENGINEERING  年，卷(期)： 2008 25(5)  分类号： V416.5  关键词： 近紫外辐照   OSR   表面电阻率   导电性能  

【近紫外辐照对OSR二次表面镜导电性能影响研究】相关文章：

类金刚石薄膜的紫外辐照研究04-27

新型无极紫外灯的光氧化性能研究04-25

ACF表面化学官能团对影响脱硫性能的研究进展04-26

高导电聚苯胺薄膜的制备及其电磁屏蔽性能的研究04-26

高能电子辐照对航天器介质材料介电性能的影响04-26

紫外超短脉冲激光辐照固体靶产生硬X射线研究04-27

容器放气性能影响因素试验研究04-26

氧气对PPS滤料性能的影响试验研究04-26

表面处理工艺对复合材料与金属连接性能的影响04-26

降雨强度对黄土边坡入渗性能影响的研究04-27