原子氧环境下磁力矩器用聚合物材料的质损和红外光谱分析
文章利用新型的原子氧环境模拟设备进行真空和原子氧试验,通过质量损失测量和FT-IR分析,对试样的质量损失率(SAML)和表面成分的变化进行了研究.试验结果表明:真空环境会导致材料产生质量损失,4种材料中真空质损最大相差24倍;原子氧作用导致聚合物材料产生质量损失,4种材料中质量损失率最大相差25倍;原子氧与有机硅物质反应能够形成保护层,可以抑制原子氧对材料内部的进一步侵蚀.FT-IR分析结果表明,原子氧作用导致环氧材料的-N消失,O元素百分比含量升高,硅橡胶的化学键被破坏,并导致新的O-H和C-H的生成.
作 者： 姜利祥 李涛 冯伟泉 孟海江 郭亮 刘向鹏 Jiang Lixiang Li Tao Feng Weiquan Meng Haijiang Guo Liang Liu Xiangpeng 作者单位： 北京卫星环境工程研究所,北京,100094 刊 名： 航天器环境工程 ISTIC 英文刊名： SPACECRAFT ENVIRONMENT ENGINEERING 年，卷(期)： 2008 25(6) 分类号： V524.3 关键词： 聚合物 原子氧 真空 质量损失 红外光谱