壳聚糖富集分离原子荧光光谱法测定环境水样中无机锡
研究了壳聚糖对无机锡的富集洗脱行为,并对富集的机理进行了探讨.提出了壳聚糖富集分离氢化物发生-原子荧光光谱法测定环境水样中无机锡的方法.研究了富集分离的最佳条件,在pH 4时,壳聚糖对Sn(Ⅱ)和Sn(Ⅳ)的富集率分别为96%和99%以上,用1%～30%(体积分数)的硫酸即可定量洗脱,同时考察了共存元素的影响,方法的检出限为4.5 ng·L-1,回收率在93%以上,相对标准偏差为4.5%.
作 者： 何振宇 许风华 徐云斌 钱沙华 作者单位： 何振宇,许风华,徐云斌(武汉市疾病预防控制中心,武汉,430022)钱沙华(武汉大学,资源与环境科学学院,武汉,430022)
刊 名： 理化检验-化学分册 ISTIC PKU 英文刊名： PHYSICAL TESTING AND CHEMICAL ANALYSIS PART B:CHEMICAL ANALYSIS 年，卷(期)： 2007 43(3) 分类号： O657.3 关键词： 氢化物发生-原子荧光光谱法 壳聚糖 富集分离 锡