各向异性介质的平行平板干涉
提出了各向异性介质平行平板干涉中的相位差计算方法.证明了e光干涉产生的条纹为严格的椭圆曲线,椭圆长短轴的比值等于o光主折射率与e光主折射率之比,而与晶体厚度、干涉级等参数无关.拍摄了实验干涉图,并用最小二乘法对干涉条纹进行椭圆曲线拟合,结果与理论完全一致.本文提出的方法可用于晶体主折射率比值的精确简便测量.
作 者： 沈为民 金永兴 康娟 孙一翎 SHEN Wei-min JIN Yong-xing KANG Juan SUN Yi-ling 作者单位： 中国计量学院,光学与电子科技学院,浙江,杭州,310018 刊 名： 大学物理 PKU 英文刊名： COLLEGE PHYSICS 年，卷(期)： 2008 27(8) 分类号： O436 关键词： 平行平板干涉 各向异性介质 折射率测量