基于田口质量损失函数的控制图优化设计
由于在生产实际中存在大量非正态过程,传统控制图将失去其有效性.针对实际生产过程中质量特性不服从正态分布的情况,以Burr分布作为非正态数据的近似分布,结合均值随机漂移和田口质量损失函数,给出(X)图的经济统计最优设计方法;根据过程输出数据,提出最优样本容量及控制限的选择.数值计算的结果显示该方法可靠;通过灵敏度分析,研究了各参数对最优设计的影响.
作 者： 张斌 韩之俊 陈湘来 ZHANG Bin HAN Zhi-jun CHEN Xiang-lai 作者单位： 张斌,ZHANG Bin(南京理工大学,经济管理学院,江苏,南京,210096;南京信息工程大学,统计学系,江苏,南京,210044)韩之俊,陈湘来,HAN Zhi-jun,CHEN Xiang-lai(南京理工大学,经济管理学院,江苏,南京,210096)
刊 名： 工业工程 ISTIC PKU 英文刊名： INDUSTRIAL ENGINEERING JOURNAL 年，卷(期)： 2007 10(6) 分类号： O213.1 关键词： Burr分布 田口质量损失函数 控制图