高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基

高温漫反射红外光谱及探针分子识别分子筛中的羟基

采用高温漫反射红外光谱法研究分子筛羟基, 考察了温度、加热时间对高温光谱的影响.该方法结合NH3和C5H5N分子探针在298～823K对磷酸硅铝分子筛SAPO-34中的羟基进行了表征.结果表明, 3612 cm-1和3597 cm-1吸收峰表征的羟基位于SAPO-34分子筛的晶格中, 归属于两种桥联羟基(Si-OH-Al).两种羟基均具有酸性, 在823K时仍然稳定.

作 者： 张平 王乐夫 李雪辉 徐建昌   作者单位： 张平(华南理工大学化工系,广州,510640;广州大学环境科学系,广州,510400)

王乐夫,李雪辉,徐建昌(华南理工大学化工系,广州,510640) 

刊 名： 分析化学  ISTIC SCI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF ANALYTICAL CHEMISTRY  年，卷(期)： 2002 30(9)  分类号： O6  关键词： 磷酸硅铝分子筛   羟基,漫反射红外光谱   高温光谱   分子探针  

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