逐次截尾样本下电子元件混联系统可靠性指标的EB估计
在逐次截尾样本下,研究电子元件混联系统可靠性指标的估计问题.将Bayes方法和极大似然法相结合,在平方损失下,获得部件失效率、系统可靠度和平均寿命的经验8ayes估计.最后给出随机模拟例子,说明该方法的正确性.结果表明可靠性指标的经验Bayes估计值精度较高.
作 者: 师小琳 SHI Xiaolin 作者单位: 西安邮电学院,陕西,西安,710121 刊 名: 现代电子技术 ISTIC 英文刊名: MODERN ELECTRONICS TECHNIQUE 年,卷(期): 2008 31(12) 分类号: O213.2 TP710 关键词: 混联系统 可靠性指标 逐次截尾样本 经验Bayes估计