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逐次截尾样本下电子元件混联系统可靠性指标的EB估计

时间:2021-12-07 17:22:56 数理化学论文 我要投稿

逐次截尾样本下电子元件混联系统可靠性指标的EB估计

在逐次截尾样本下,研究电子元件混联系统可靠性指标的估计问题.将Bayes方法和极大似然法相结合,在平方损失下,获得部件失效率、系统可靠度和平均寿命的经验8ayes估计.最后给出随机模拟例子,说明该方法的正确性.结果表明可靠性指标的经验Bayes估计值精度较高.

作 者: 师小琳 SHI Xiaolin   作者单位: 西安邮电学院,陕西,西安,710121  刊 名: 现代电子技术  ISTIC 英文刊名: MODERN ELECTRONICS TECHNIQUE  年,卷(期): 2008 31(12)  分类号: O213.2 TP710  关键词: 混联系统   可靠性指标   逐次截尾样本   经验Bayes估计