ICP-AES用于硅溶胶中杂质元素的直接测定
通过直接称取适量硅溶胶样品稀释于水中,采用超声配制成悬浮液,无需加入额外的分散剂,然后直接进样进行ICP-AES分析,将所获得的结果与传统的样品处理方法所获得的测定结果进行比较,发现两种不同样品处理方法得到的分析结果相一致.该方法无需消解样品,避免了腐蚀性酸的使用,降低了对环境的危害,同时减少了预处理过程.方法的回收率在92%-103%之间,且具有良好的准确度和精密度.
作 者： 吴冬梅 陈奕睿 屈海云 王安宝 何品刚 WU Dong-Mei CHEN Yi-Rui Qu Hai-Yun WANG An-Bao HE Pin-Gang 作者单位： 吴冬梅,WU Dong-Mei(中国科学院上海硅酸盐研究所,上海市定西路1295号,200050;华东师范大学化学系,上海市,200062)陈奕睿,屈海云,王安宝,CHEN Yi-Rui,Qu Hai-Yun,WANG An-Bao(中国科学院上海硅酸盐研究所,上海市定西路1295号,200050)
何品刚,HE Pin-Gang(华东师范大学化学系,上海市,200062)
刊 名： 光谱实验室 PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF SPECTROSCOPY LABORATORY 年，卷(期)： 2009 26(2) 分类号： O657.31 关键词： 电感耦合等离子体-原子发射光谱法 硅溶胶 杂质 直接进样