叠前深度偏移及其配套技术分析
本文综述了叠前深度偏移的发展历程,就Kirchhoff积分法、波动方程法、共聚焦技术,概述了其中常用方法的发展历程、优点与不足乃至实现方法的关键技术问题.当前成像研究的热点——保幅偏移也有所涉及.此外,还简述了叠前深度偏移的配套技术:速度分析、基准面校正、验证模型等.
作 者: 梁栋 唐小彪 作者单位: 成都理工大学信息工程学院 刊 名: 科技信息 英文刊名: SCIENCE & TECHNOLOGY INFORMATION 年,卷(期): 2009 ""(24) 分类号: 关键词: 叠前深度偏移 基准面校正 波动方程 速度分析