超细地质标准物质及其应用
74μm(200目)样品粒度是当今地质分析的一项重要技术基础.文中从实践角度指出了现代地质分析技术对样品粒度的新需求,并由地质分析样品粒度演化的历史说明了随着分析技术的不断进步,分析样品粒度阶梯性减小的趋势.从而认为应不失时机地研制超细粒度的地质标准物质,为研究超细样品条件下的分析技术奠定物质基础、提供评价依据.为此采用超细粉碎技术制备了一套具有超细粒度的海洋沉积物标准物质系列;并给出了以超细样品粉末直接压片制样,用X射线荧光法精确测定了海山磷块岩中包括C,F,Cl,Br和Ⅰ在内的主、次、痕量共32个元素的应用实例.最后讨论了超细标准物质制备及应用可能对地质分析技术未来发展造成的影响--导致新的地质分析技术体系的产生.
作 者： 王晓红 高玉淑 王毅民 作者单位： 国家地质实验测试中心,北京,100037 刊 名： 自然科学进展 ISTIC PKU 英文刊名： PROGRESS IN NATURAL SCIENCE 年，卷(期)： 2006 16(3) 分类号： P5 关键词： 地质标准物质 超细粉碎 粒度分析 X射线荧光 "绿色"分析技术