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焦平面探测器ZnS增透技术研究

时间:2021-12-07 17:29:53 天文地理论文 我要投稿

焦平面探测器ZnS增透技术研究

在InSb焦平面探测器(FPA)制造中,InSb芯片背面经磨抛减薄后需要在表面镀制增透膜,增大InSb芯片对红外光的吸收.本文介绍了采用磁控溅射方法镀制不同厚度的ZnS膜,测量其光谱透过率及反射率,利用红外焦平面测试系统比较了ZnS膜和SiO2膜的增透效果,结果表明磁控溅射的ZnS膜具有更优的增透效果和均匀性.

焦平面探测器ZnS增透技术研究

作 者: 郑克霖 傅月秋 王海珍   作者单位: 中国空空导弹研究院  刊 名: 内江科技  英文刊名: NEIJIANG KEJI  年,卷(期): 2009 30(11)  分类号: P3  关键词: InSb焦平面探测器   ZnS   增透   磁控溅射