基于参数统计的DEM粗差探测算法
基于参数统计的DEM粗差探测算法利用双线性内插法计算某点的高程估值,并以此进行粗差检测,方法简单易行.文中以Kriging 法取代原有的内插算法,使高程估值的计算更加符合实际的分布.试验证明基于半变异函数的Kriging 内插法较传统方法更为准确,也使原有算法的可靠性得到进一步的提高.
作 者: 黄宏波 梁鑫 杨晓云 罗刚 HUANG Hong-bo LIANG Xin YANG Xiao-yun LUO Gang 作者单位: 黄宏波,罗刚,HUANG Hong-bo,LUO Gang(浙江省交通工程建设集团,浙江,杭州,310027)梁鑫,杨晓云,LIANG Xin,YANG Xiao-yun(广西工学院,土木建筑工程系,广西,柳州,545006)
刊 名: 测绘工程 ISTIC 英文刊名: ENGINEERING OF SURVEYING AND MAPPING 年,卷(期): 2008 17(1) 分类号: P231 关键词: 数字高程模型 半变异函数 参数统计 Kriging