微分测深装置视电阻率异常研究

微分测深装置视电阻率异常研究

微分测深以其独特的工作方式,较好的场地适应能力而广泛应用于工程地质勘察中.这里针对微分测深的工作方式,研究了供电电极AB距离大小对测深曲线的典型影响,并在此基础上,计算和对比分析了二维、三维地质构造不同测点的电测深曲线和视电阻率异常的主要特征,为微分测深的实际工作提供参考.

作 者： 吕玉增 韦柳椰 阮百尧 LV Yu-zeng WEI Liu-ye RUAN Bai-yao   作者单位： 吕玉增,LV Yu-zeng(中南大学,信息物理工程学院,长沙,410083;桂林工学院,桂林,541004)

韦柳椰,阮百尧,WEI Liu-ye,RUAN Bai-yao(桂林工学院,桂林,541004) 

刊 名： 物探化探计算技术  ISTIC 英文刊名： COMPUTING TECHNIQUES FOR GEOPHYSICAL AND GEOCHEMICAL EXPLORATION  年，卷(期)： 2008 30(1)  分类号： P631.3+22  关键词： 微分测深   二维   三维   电测深曲线   视电阻率断面  

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