微分测深装置视电阻率异常研究
微分测深以其独特的工作方式,较好的场地适应能力而广泛应用于工程地质勘察中.这里针对微分测深的工作方式,研究了供电电极AB距离大小对测深曲线的典型影响,并在此基础上,计算和对比分析了二维、三维地质构造不同测点的电测深曲线和视电阻率异常的主要特征,为微分测深的实际工作提供参考.
作 者: 吕玉增 韦柳椰 阮百尧 LV Yu-zeng WEI Liu-ye RUAN Bai-yao 作者单位: 吕玉增,LV Yu-zeng(中南大学,信息物理工程学院,长沙,410083;桂林工学院,桂林,541004)韦柳椰,阮百尧,WEI Liu-ye,RUAN Bai-yao(桂林工学院,桂林,541004)
刊 名: 物探化探计算技术 ISTIC 英文刊名: COMPUTING TECHNIQUES FOR GEOPHYSICAL AND GEOCHEMICAL EXPLORATION 年,卷(期): 2008 30(1) 分类号: P631.3+22 关键词: 微分测深 二维 三维 电测深曲线 视电阻率断面