高密度电法长剖面测量应用研究

高密度电法长剖面测量应用研究

勘探线长度大于高密度电法实际探测剖面长度时,可先通过滑动测量和滚动测量两种方法采集数据,再将数据处理融合后进行反演,反演结果为长剖面二维断面图,将其与单条短剖面测量反演结果对比,两种结果反映出的电阻率和充电率异常在形态和位置上对应,长剖面测量反演图像能够突出强度较高的异常,用它实现了对整条勘探线上各异常进行强度对比和异常等级划分.

作 者： 马德锡 范俊杰 于爱军 陈勇敢 王治华 张峰   作者单位： 马德锡(武警黄金地质研究所,河北,廊坊,065000;中国地质大学(北京),北京,100083)

范俊杰,于爱军,陈勇敢,王治华,张峰(武警黄金地质研究所,河北,廊坊,065000) 

刊 名： 黄金科学技术  ISTIC 英文刊名： GOLD SCIENCE AND TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2008 16(2)  分类号： P631.3  关键词： 高密度电法   勘探线   长剖面   滚动测量  

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