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ICP-MS法测定电子电器材料中的有害元素铅、镉、砷、铬

时间:2021-12-10 19:47:48 环境保护论文 我要投稿

ICP-MS法测定电子电器材料中的有害元素铅、镉、砷、铬

建立了电感耦合等离子体质谱测定不同基体的电子电器材料中铅、镉、铬、砷四种有害元素的方法.对仪器的参数、测试稳定性等作了系统研究,优化了对不同基体样品中铅、镉、铬、砷元素分析的前处理条件,探讨了各种材料中基体元素与其它共存元素对待测元素的影响.方法检出限为0.0024-0.46μg·g-1,对标准物质的测定值与参考值相符,相对准偏差为0.6%-5.8%.

作 者: 张华 王英锋 施燕支 陈玉红 李平 John Lau Steven Wilbur   作者单位: 张华,王英锋,施燕支(首都师范大学分析测试中心)

陈玉红,李平,John Lau,Steven Wilbur(安捷伦科技有限公司) 

刊 名: 环境化学  ISTIC PKU 英文刊名: ENVIRONMENTAL CHEMISTRY  年,卷(期): 2006 25(5)  分类号: X13  关键词: