阳离子 SiX+(X=F,Cl,S,P,Br)分子光谱和分子特性的理论研究
摘要： 应用密度泛函B3LYP方法合并Dunning等人的相关一致自恰基组d-aug-cc-pVxZ(x=D,T,Q,5,6),研究了阳离子SiX+(X=F,Cl,S,P,Br)的基态光谱常数和分子特性.首先对所研究分子进行单点能扫描,并将结果拟合到SPF展式,然后从SPF展式抽取光谱常数.结果表明,随着基组的`不断增大,各种光谱常数很好的自洽收敛.最后,我们将结果外推到CBS极限,理论计算结果和已报到的实验结果以及其它理论值都非常吻合.其中SiS+,SiP+,SiBr+分子的部分光谱常数的理论值为首次报道. 作 者： 陈恒杰 程新路 苏欣纺 李清焕 CHEN Heng-jie CHENG Xin-lu SU Xing-fang LI Qing-huan 作者单位： 四川大学原子与分子物理研究所,成都,610065 期 刊： 四川大学学报（自然科学版） ISTICPKU Journal： JOURNAL OF SICHUAN UNIVERSITY(NATURAL SCIENCE EDITION) 年，卷(期)： 2007, 44(2) 分类号： X793 关键词： B3LYP 阳离子 光谱常数 分子特性【阳离子 SiX+(X=F,Cl,S,P,Br)分子光谱和分子特性的理论研】相关文章：
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