美国光学特性测量技术发展情况及特点
简要介绍了美国地基、空基、天基光学特性测量技术的发展情况,对其在光学特性测量技术领域发展的特点给予了分析、总结.
作 者： 邢强林 谭谦 唐嘉 XING Qiang-lin TAN Qian TANG Jia 作者单位： 北京跟踪与通信技术研究所·北京·100094 刊 名： 飞行器测控学报 ISTIC 英文刊名： JOURNAL OF SPACECRAFT TT & C TECHNOLOGY 年，卷(期)： 2007 26(1) 分类号： V556.5 关键词： 光学特性测量 红外辐射特性测量 光谱特性测量