用高阶高精度WENO格式求解二维激波附面层干扰流场

用高阶高精度WENO格式求解二维激波附面层干扰流场

采用时间相关法求解二维Navier-Stokes方程,数值模拟二维平板层流附面层与激波干扰流场,给出了物面压力分布和应力分布.计算中,对流项空间导数的差分离散采用高阶高精度WENO格式,时间方向采用具有TVD性质的Runge-Kutta方法,粘性项采用二阶中心差分.所得压力分布和应力分布与国外实验结果吻合较好,计算实践表明高阶WENO格式具有优异的性能,应用前景广阔.

作 者： 徐万武 王正华 侯中喜 王承尧 XU Wan-wu WANG Zheng-hua HOU Zhong-xi WANG Cheng-yao   作者单位： 国防科技大学航天与材料工程学院,湖南,长沙,410073  刊 名： 国防科技大学学报  ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF NATIONAL UNIVERSITY OF DEFENSE TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2000 22(2)  分类号： V211.3  关键词： ENO格式   WENO格式   TVD Runge-Kutta法   激波附面层干扰  

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