航空电子设备故障诊断技术研究综述
随着电子技术的发展,电子设备组成的复杂化和智能化不断提高,IC芯片制造工艺的不断提高使得VLSI电路的集成密度增加,亦加大了电路故障测试的复杂性和困难度.本文综述了电子电路的通用测试方法和技术,并分析了局限性.详细叙述了刚刚发展起来的基于知识的故障诊断方法,它的应用使对于一个较复杂的电子设备进行准确故障诊断成为可能,并对其发展进行了探讨和展望.
作 者: 安治永 李应红 苏长兵 AN Zhi-yong LI Ying-hong SU Chang-bing 作者单位: 空军工程大学工程学院一系,西安,710038 刊 名: 电光与控制 ISTIC PKU 英文刊名: ELECTRONICS OPTICS & CONTROL 年,卷(期): 2006 13(3) 分类号: V243 关键词: 可测性设计 内建自测试 故障诊断 神经网络 信息融合 复杂电子系统 非线性