航空电子设备故障诊断技术研究综述

航空电子设备故障诊断技术研究综述

随着电子技术的发展,电子设备组成的复杂化和智能化不断提高,IC芯片制造工艺的不断提高使得VLSI电路的集成密度增加,亦加大了电路故障测试的复杂性和困难度.本文综述了电子电路的通用测试方法和技术,并分析了局限性.详细叙述了刚刚发展起来的基于知识的故障诊断方法,它的应用使对于一个较复杂的电子设备进行准确故障诊断成为可能,并对其发展进行了探讨和展望.

作 者： 安治永 李应红 苏长兵 AN Zhi-yong LI Ying-hong SU Chang-bing   作者单位： 空军工程大学工程学院一系,西安,710038  刊 名： 电光与控制  ISTIC PKU 英文刊名： ELECTRONICS OPTICS & CONTROL  年，卷(期)： 2006 13(3)  分类号： V243  关键词： 可测性设计   内建自测试   故障诊断   神经网络   信息融合   复杂电子系统   非线性  

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