电子辐照下聚酰亚胺薄膜的深层充电现象研究
空间辐射环境下聚合物绝缘材料的深层充放电效应是威胁航天器安全的重要因素之一.文章利用能量为5～100keV的单能电子枪,研究了不同束流强度电子辐照下聚酰亚胺薄膜样品的深层充电过程.实验表明,在102 pA量级的电子束辐照下,聚酰亚胺薄膜样品的表面电位迅速上升后缓慢变化,最终可以达到几kV.在一定条件下,样品表面电位随着辐照电子束流密度和样品厚度的增加而增大;充电达到平衡所需的时间随着辐照电子束流密度和样品厚度的增加而减少.辐照截止后聚酰亚胺薄膜样品内部电荷的泄放需经历较长时间,由衰减时间常数推测出的样品电阻率要比采用传统测量方法得到的结果高一个量级.
全荣辉,闫小娟,Quan Ronghui,Yan Xiaojuan(中国科学院,空间科学与应用研究中心,北京,100080;中国科学院,研究生院,北京,100039)
刊 名： 航天器环境工程 ISTIC 英文刊名： SPACECRAFT ENVIRONMENT ENGINEERING 年，卷(期)： 2008 25(1) 分类号： V416.5 关键词： 航天器 深层充电 介质材料 聚酰亚胺