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基于ML-Ⅱ方法的k/n-系统Bayes可靠性评估
n中取k系统(简称k/n-系统)是工程实践中应用最广泛的系统类型之一.为了在系统现场试验样本量很小的情况下进行可靠性评估,首先利用次序统计量推导了k/n-系统寿命分布的密度函数,并给出了模型参数的第二类极大似然估计(ML-Ⅱ估计);然后给出了k/n-系统Bayes可靠性评估的一般步骤;仿真实例表明了方法的可行性.
作 者： 程皖民 冯静 周经伦 孙权 CHENG Wan-min FENG Jing ZHOU Jing-lun SUN Quan 作者单位： 国防科技大学信息系统与管理学院系统工程系,长沙,410073 刊 名： 电光与控制 ISTIC PKU 英文刊名： ELECTRONICS OPTICS & CONTROL 年，卷(期)： 2007 14(1) 分类号： V271.4 关键词： 可靠性评估 k/n-系统 Bayes 次序统计量 第二类极大似然估计【基于ML-Ⅱ方法的k/n-系统Bayes可靠性评估】相关文章：
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