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CAF:电子工业小型化的威胁
概述了CAF的历史、发生的原理,分析了CAF产生的根本原因,比较了几种CAF失效分析的方法,同时也介绍了一种简易的测试设备.
作 者: 高艳丽 华嘉桢 Gao Yanli Hua Jiazhen 作者单位: 江南计算技术研究所,214083 刊 名: 印制电路信息 英文刊名: PRINTED CIRCUIT INFORMATION 年,卷(期): 2005 ""(10) 分类号: F4 关键词: CAF 小型化【CAF:电子工业小型化的威胁】相关文章:
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