硅灰石的X射线荧光光谱分析
将X射线荧光光谱法应用于硅灰石中SiO2、CaO、Al2O3、Fe2O3、P2O5、MgO、K2O、TiO2、MnO的同时快速测定.试样和混合熔剂的质量比为1∶10,在此稀释比时试样在熔剂中的分散度(浓度)适当,可适应各个组分的测定.熔融法分解试样有效地消除了试样的粒度效应和矿物效应.采用理论α系数校正法克服了基体吸收及增强效应.用国家标准物质和样品验证了方法的精密度和准确度,其结果与化学分析值相符.
作 者： 罗明荣 LUO Ming-rong 作者单位： 四川大西洋焊接材料股份有限公司检测所,四川,自贡,643010 刊 名： 岩矿测试 ISTIC PKU 英文刊名： ROCK AND MINERAL ANALYSIS 年，卷(期)： 2007 26(3) 分类号： O657.34 P578.94 关键词： X射线荧光光谱法 硅灰石 混合熔剂 快速测定