XAFS在凝聚态物质研究中的应用

XAFS在凝聚态物质研究中的应用

详细介绍了X射线吸收精细结构谱学(XAFS)的理论、数据分析及实验等基本原理,以及XAFS在薄膜、纳米结构和体相材料(包括半导体、合金以及复杂氧化物)等凝聚态物质研究中的应用;同时,还介绍了原位XAFS、微区XAFS和时间分辨XAFS等新的实验方法,并对该方法的应用前景进行了展望.

作 者： 韦世强 孙治湖 潘志云 闫文盛 钟文杰 贺博 谢治 韦正 WEI Shi-qiang SUN Zhi-hu PAN Zhi-yun YAN Wen-sheng ZHONG Wen-jie HE Bo XIE Zhi WEI Zheng   作者单位： 中国科学技术大学国家同步辐射实验室,安徽合肥,230029  刊 名： 中国科学技术大学学报  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY OF CHINA  年，卷(期)： 2007 37(4)  分类号： O722  关键词： 同步辐射   XAFS   原子和电子结构   纳米结构   凝聚态物质  

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