球栅阵列倒装焊封装中的热应变值的测试
利用高温云纹实验方法测试球栅阵列(BGA)封装焊点的热应变,采用硅橡胶试件光栅复制技术,使测试环境温度提高到200℃.通过实时热应变测量,得到各焊点的热应变关系以及封装材料、电路板各部分的热应变分布状况,为研究集成电路封装组件焊点的建模和热疲劳破坏机理提供了可靠的实验依据.
作 者： 李禾 傅艳军 李仁增 严超华 作者单位： 南昌航空工业学院实验力学研究室,南昌,330034 刊 名： 半导体学报 ISTIC EI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF SEMICONDUCTORS 年，卷(期)： 2002 23(6) 分类号： O348 TN307 关键词： 高温云纹 光栅 倒装焊 热疲劳