基于扫频时域法测量的RCS外推技术研究

基于扫频时域法测量的RCS外推技术研究

大目标的室内RCS测量不易满足远场条件,外推技术可将测试距离大幅度缩短,从而克服此缺陷.针对点频连续波方法测试RCS精度很有限,致使外推结果精度不高,本文提出基于扫频的时域法RCS外推技术.扫频测试能得到高精度的时域测试数据,通过对时域数据进行有效的变换,获取准确的频域幅相信息,从而外推出较高精度的远场RCS,实现大目标的RCS测量.通过对金属圆柱的测试,验证了该技术的优越性.

作 者： 李南京 许家栋 张麟兮 胡楚锋 LI Nan-jing XU Jia-dong ZHANG Lin-xi HU Chu-feng   作者单位： 西北工业大学无人机特种技术国防科技重点实验室,西安,710072  刊 名： 微波学报  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF MICROWAVES  年，卷(期)： 2007 23(4)  分类号： O4  关键词： 雷达散射截面   时域   扫频   外推  

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