杂质吸收对光子晶体缺陷模偏振态的影响
引入复折射率并利用特征矩阵法,研究了杂质的吸收对TE波和TM波缺陷模透射峰的影响.得出:杂质的消光系数对TE波和TM波的缺陷模透射峰都有显著的影响,但对TE波缺陷模的影响比对TM波缺陷模的影响更为明显.当消光系数一定时,TE波的缺陷模透射峰随入射角的增大而迅速减小,而TM波的缺陷模透射峰随入射角的增大而增大.利用这一特性可以设计光子晶体偏振滤波器.
作 者： 刘启能 LIU Qi-neng 作者单位： 重庆工商大学,理学院,重庆,400067 刊 名： 半导体光电 ISTIC PKU 英文刊名： SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONICS 年，卷(期)： 2007 28(6) 分类号： O436 关键词： 光子晶体 特征矩阵 消光系数 缺陷模 偏振态