借助光栅测谱中高级次谱判断强激光场作用时的有效功率密度
借助在X光波段高次谐波辐射谱测量过程中,根据单色仪光栅分光的作用,产生的23级次(34.56 nm)谐波谱的二级次谱(69.13 nm)的出现与否,判断了实验获得高次谐波谱的截止波长;从而根据高次谐波的理论,判断了强激光场与物质相互作用时,激励产生X光谱的有效功率密度为1.007×1014 W/cm2,此时获得最大光子能量为32.817 eV.它的准确判断和测量是研究实验获得谱线的来源和强度的基础数据.
作 者： 陈建新 王骐 夏元钦 作者单位： 哈尔滨工业大学光电子技术研究所,可调谐激光技术国家级重点实验室,黑龙江,哈尔滨,150001 刊 名： 中国激光 ISTIC EI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF LASERS 年，卷(期)： 2003 30(3) 分类号： O437.1 关键词： 激光物理 光栅分光 高级次谱 测试系统