光学综合孔径干涉成像技术

光学综合孔径干涉成像技术

闭合相位技术、U-V覆盖技术和像重构技术是光学综合孔径干涉成像的三个关键技术.文中详细介绍了闭合相位技术的原理、U-V覆盖技术(包括即时覆盖和通过孔径旋转的非即时覆盖两种方法)和用于图像重构的常用方法以及用于光学综合孔径像重构的混合迭代方法,最后讨论了光学综合孔径干涉成像技术的应用.

作 者： 王海涛 周必方   作者单位： 国家天文台,南京天文光学技术研究所,江苏,南京,210042  刊 名： 光学精密工程  ISTIC EI PKU 英文刊名： OPTICS AND PRECISION ENGINEERING  年，卷(期)： 2002 10(5)  分类号： O436.1  关键词： 光干涉   光学综合孔径   图像重构   闭合相位   U-V覆盖  

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