微波介质材料 BaEu2Ti4O12的交流阻抗谱表征
采用交流阻抗谱技术对微波介质材料 BaEu2Ti4O12进行了表征。分析了 lgε /lgf, Z″ /Z′和 Y′ /lgf等图谱的特征与材料性能的关系 .研究结果表明: 1)阻抗谱测试得到的介电常数与所发表的微波测试结果有很好的一致性 ,高频下得到的介电常数实际上是晶粒和晶界的净结果 ,高质量烧结的材料应具有薄的晶界，因而应表现出较大的介电常数;2)如果将材料从高温下缓慢降温或在 O2气氛中退火，材料的导电性都会下降，其原因可以理解为这样处理的材料氧空位浓度降低，进而可以推测这有利于降低材料的介电损失.
作 者： 荆西平 Anthony R.West 作者单位： 荆西平(稀土材料化学与应用国家重点实验室,北京大学化学与分子工程学院,北京,100871)Anthony R.West(Department of Engineering Materials, University of Sheffield, Sheffield S1 3JD, UK)
刊 名： 物理化学学报 ISTIC SCI PKU 英文刊名： ACTA PHYSICO-CHIMICA SINICA 年，卷(期)： 2003 19(2) 分类号： O646 关键词： 交流阻抗谱 BaEu2Ti4O12 微波介质材料 AC impedance BaEu2Ti4O12 Microwave dielectric