北京谱仪(BESⅡ)上p和(p-)鉴别的研究
以北京谱仪(BES)上常用的3种粒子鉴别方法为基础,充分利用BESⅡ所获取的R值扫描、J/ψ和ψ'数据中p,(p-)以及其他带电粒子样本,对动量范围在0.3-1.2GeV的p和p-鉴别方法进行分析研究.找到BES Ⅱ上p和(p-)的最佳鉴别方法:动量低于0.6GeV只用dE/dx实现粒子鉴别,动量高于0.6GeV可用TOF或联合鉴别的方法,并给出p,(p-)的鉴别效率以及本底的混入比例.
刘峰(华中师范大学粒子物理研究所,武汉,430079)
李金,苑长征(中国科学院高能物理研究所,北京,100039)
王至勇(中国科学院高能物理研究所,北京,100039;中国高等科学技术中心,北京,100080)
刊 名： 高能物理与核物理 ISTIC SCI PKU 英文刊名： HIGH ENERGY PHYSICS AND NUCLEAR PHYSICS 年，卷(期)： 2003 27(8) 分类号： O4 关键词： 北京谱仪Ⅱ 质子 反质子 粒子鉴别