ESPI技术测量静态和准动态面内位移
利用高速CCD摄像技术和电子散斑图干涉(ESPI)法,研究了薄板的静态和准动态面内位移测量技术.采用小光圈成像技术和图像灰度进行线性变换的图像处理技术,实现对散斑图像的低通滤波和高通增强处理,提高了散斑条纹的对比度和清晰度,为条纹图的定量处理提供了方便.
作 者： 杨福俊 何小元 庄春泉 作者单位： 杨福俊,何小元(东南大学工程力学系,江苏,南京,210096)庄春泉(南京航空航天大学智能材料研究所,江苏,南京,210016)
刊 名： 光电子·激光 ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF OPTOELECTRONICS·LASER 年，卷(期)： 2003 14(10) 分类号： O348 关键词： 高速CCD摄像 电子散斑图干涉(ESPI) 动态面内位移测量 图像处理