X射线荧光光谱法测定锌铝硅合金中硅和铁
采用岛津MXF-2400型多道X荧光光谱仪测定锌铝硅合金中硅及铁的含量,对样品分析面进行了选择,考察了分析面光洁度、样品放置时间对测定的影响条件.方法样品前期处理简便,分析速度快,灵敏度高,硅和铁的相对标准偏差(RSD,n=11)分别为1.15%和0.44%.与其他方法对照,结果相符.
作 者： 王军学 WANG Jun-xue 作者单位： 湖南株冶火炬金属股份有限公司质保部,湖南,株洲,412004 刊 名： 岩矿测试 ISTIC PKU 英文刊名： ROCK AND MINERAL ANALYSIS 年，卷(期)： 2008 27(1) 分类号： O657.34 O613.72 O614.811 关键词： X射线荧光光谱法 锌铝硅合金 硅 铁