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通过SERS手段高灵敏度检测纯化的碳纳米管的Raman-D峰

时间:2021-12-13 20:52:15 数理化学论文 我要投稿

通过SERS手段高灵敏度检测纯化的碳纳米管的Raman-D峰

本文采用"三明治"(滤膜/ 碳纳米管/ 银胶)SERS体系,对提纯后的碳纳米管样品进行缺陷检测.通过与其拉曼散射光谱进行比较,发现较平的缺陷峰D峰在SERS光谱中得到明显地增强,反应出多种碳杂质的信息.该方法使用样品量很少(5 μg),光谱信息比普通拉曼要丰富很多.该方法可用于高灵敏度的检测纯化后的样品的缺陷.

作 者: 李娜 方炎 LI Na FANG Yan   作者单位: 北京市纳米光电子重点实验室首都师范大学,北京,100037  刊 名: 光散射学报  ISTIC PKU 英文刊名: CHINESE JOURNAL OF LIGHT SCATTERING  年,卷(期): 2008 20(3)  分类号: O657.37  关键词: 碳纳米管   表面增强拉曼散射   Raman-D峰