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基于8～14μm带宽的谱带发射率的研究
摘要：针对红外测量中常用的8～14 μm的带宽,依据前人的实验结果,计算了两种材料的谱带发射率,并且通过简单的实验,测量了几种材料的谱带发射率.实验和计算结果表明:谱带发射率与温度之间存在着某种函数关系.对于常用的带通辐射测温仪和热像仪,如果测量对象为非灰体,仍然把发射率值看作是一个常数,将会导致较大的测量误差.初步研究表明,对于非金属和真空中的金属,谱带发射率与温度近似存在线性关系.利用拟合出的谱带发射率与温度的函数关系式,可以作为辐射测温仪和热像仪的修正,不仅简化了计算,而且能够提高其测量精度. 作者： 于坤[1] 刘玉芳[2] 贾光瑞[3] 施德恒[4] Author： YU Kun[1] LIU Yu-fang[2] JIA Guang-rui[3] SHI De-heng[4] 作者单位： 北京理工大学光电学院,北京100081;河南师范大学物理与信息工程学院,河南新乡 453007;兴义民族师范学院物理系,贵州兴义562400北京理工大学光电学院,北京100081;河南师范大学物理与信息工程学院,河南新乡 453007北京理工大学光电学院,北京,100081河南师范大学物理与信息工程学院,河南新乡,453007 期 刊： 光谱学与光谱分析 ISTICEISCIPKU Journal： Spectroscopy and Spectral Analysis 年，卷(期)： 2012, 32(2) 分类号： O433.1 关键词： 光谱发射率 谱带发射率 辐射测温计 多项式拟合 机标分类号： TK1 TH8 机标关键词： 带宽 谱带 发射率 辐射测温仪 红外测量 函数关系式 温度 实验结果 热像仪 计算结果 线性关系 非金属 初步研究 测量误差 测量精度 测量对象 材料 非灰体 真空 修正 基金项目： 国家自然科学基金，贵州省教育厅自然科学基金重点项目 基于8～14μm带宽的谱带发射率的研究[期刊论文] 光谱学与光谱分析 --2012, 32(2)于坤 刘玉芳 贾光瑞 施德恒针对红外测量中常用的`8～14 μm的带宽,依据前人的实验结果,计算了两种材料的谱带发射率,并且通过简单的实验,测量了几种材料的谱带发射率.实验和计算结果表明:谱带发射率与温度之间存在着某种函数关系.对于常用的带通辐射...【基于8～14μm带宽的谱带发射率的研究】相关文章：
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