一种新的滤纸基质固体表面低温荧光(燐光)测定装置
对自行研制的铜制滤纸基质低温荧光( 光)测定的样品支架,进行了滤纸基质固体表面低温荧光测定的可行性研究.与同类冷冻装置和室温测定装置比较,本装置用于滤纸基质固体表面低温荧光( 光)测定具有以下优点:样品的分析周期大大地缩短,由45 min缩短为5~6 min;装置简单、便宜耐用;操作简便,简化了室温测定时的滤纸干燥程序;应用范围广;方法的重现性好,检样分析结果的相对标准偏差RSD%小于10%;荧光( 光)分析灵敏度高,检出限低,线性范围宽.
作 者: 何晓东 蔡东 邓桂春 臧树良 作者单位: 何晓东,蔡东(沈阳信息技术研究中心,沈阳,110001)邓桂春,臧树良(辽宁大学化学科学与工程研究院,沈阳,110036)
刊 名: 分析化学 ISTIC SCI PKU 英文刊名: CHINESE JOURNAL OF ANALYTICAL CHEMISTRY 年,卷(期): 2002 30(7) 分类号: O65 关键词: 滤纸基质,固体表面,低温装置,荧光( 光)测定