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γ-Si3N4在高压下的光学性质研究

时间:2021-12-09 19:20:22 数理化学论文 我要投稿

γ-Si3N4在高压下的光学性质研究

采用基于密度泛函平面波赝势方法(PWP)和广义梯度近似(GGA-PW91),详细计算了不同压力下γ-Si3N4的光学性质(反射系数、吸收系数、复介电常数、折射系数).分析了压力对光学性质的影响,发现在高压条件γ-Si3N4的一些光学性质并不发生太大的变化,表明γ-Si3N4在高压条件下的光学应用是可行的.

γ-Si3N4在高压下的光学性质研究

作 者: 丁迎春 徐明 沈益斌 陈青云 段满益 DING Ying-chun XU Ming SHEN Yi-bing CHEN Qing-yun DUAN Man-yi   作者单位: 四川师范大学,物理与电子工程学院&固体物理研究所,四川,成都,610066  刊 名: 四川师范大学学报(自然科学版)  ISTIC PKU 英文刊名: JOURNAL OF SICHUAN NORMAL UNIVERSITY(NATURAL SCIENCE)  年,卷(期): 2007 30(6)  分类号: O734  关键词: γ-Si3N4   光学性质   高压   第一性原理