挥发物对BBO晶体的腐蚀研究
采用顶部籽晶法,以NaF为助熔剂生长非线性光学晶体材料β-BaB2O4(简称BBO)晶体.在生长过程中发现挥发物掉落在晶体表面并严重腐蚀晶体.通过X射线粉末衍射分析,发现挥发物的主要成分是NaF,它不仅腐蚀晶体表面,而且引起晶体内部包裹物的形成.X射线衍射分析和质谱分析表明包裹物的主要成分是BaB2O4,另有少量Na+存在.探讨了由挥发物引起晶体内部形成包裹物的机理.
作 者: 徐子颉 作者单位: 中国科学院理化技术研究所,北京,100080 刊 名: 人工晶体学报 ISTIC EI PKU 英文刊名: JOURNAL OF SYNTHETIC CRYSTALS 年,卷(期): 2003 32(3) 分类号: O722 关键词: β-BaB2O4晶体 顶部籽晶法 挥发物