Nd∶YAG激光晶体单程损耗的研究
本文对导致Nd∶YAG激光晶体单程损耗的原因进行了分析,并建立了一套精确测量Nd∶YAG激光晶体单程损耗系数的测试系统.选用了与以往测量损耗系数方法不同的测试思路.通过该系统可直接测量激光工作波长单次通过Nd∶YAG 晶体时所引起的光损耗.文中对测试物理过程及数学模型的建立进行了阐述,并分析了端面反射率对测试结果的影响;研究了各种生长缺陷对激光工作波长所造成的损耗;讨论了测试不同通光面晶体损耗的方法;并实现了计算机全过程的自动数据采集及处理.
作 者: 朱建慧 徐学珍 姚广涛 张韶光 作者单位: 北京奥依特科技有限公司,北京,100015 刊 名: 人工晶体学报 ISTIC EI PKU 英文刊名: JOURNAL OF SYNTHETIC CRYSTALS 年,卷(期): 2002 31(6) 分类号: O734 关键词: Nd∶YAG 单程损耗 生长缺陷 双光路测量 端面反射率