用表面磁光克尔原理测量薄膜材料的磁性参数
以表面磁光克尔原理为机理,测量薄膜材料的磁性参数,实验上求得了饱和状态下坡莫合金的克尔偏转角,并测出了其磁滞回线.
作 者： 祁建霞 QI Jian-xia 作者单位： 西安邮电学院,应用数学与应用物理系,陕西,西安,710121 刊 名： 大学物理 PKU 英文刊名： COLLEGE PHYSICS 年，卷(期)： 2009 28(9) 分类号： O441.6 关键词： 表面磁光克尔效应 磁滞回线 克尔旋转角【用表面磁光克尔原理测量薄膜材料的磁性参数】相关文章：
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