空间差分方法在钛酸锶基陶瓷晶界的X射线能量色散谱分析中的应用
X射线能量色散谱(EDS)分析方法在材料领域得到了广泛的应用.将空间差分方法应用到EDS分析中.能够突破电子束斑的限制.大大扩展其分析材料微小区域组分的能力.本文以钛酸锶基陶瓷材料中晶界纳米颗粒和晶界偏析为例,简要介绍了与EDS分析相关的空间差分方法,并进行了进一步的分析和讨论.
作 者： 邢娟娟 王贤浩 顾辉 XING Juan-juan WANG Xiao-hao GU Hui 作者单位： 邢娟娟,王贤浩,XING Juan-juan,WANG Xiao-hao(中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷和超微结构国家重点实验室,上海,200050;中国科学院研究生院,北京,100049)顾辉,GU Hui(中国科学院上海硅酸盐研究所高性能陶瓷和超微结构国家重点实验室,上海,200050)
刊 名： 电子显微学报 ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF CHINESE ELECTRON MICROSCOPY SOCIETY 年，卷(期)： 2008 27(1) 分类号： O657.62 O766+.1 TB383 TG115.21+5.3 关键词： X射线能量色散谱(EDS) 空间差分 SrTiO3 晶界偏析 纳米颗粒