稳态卡计法测量材料在不同温度条件下半球发射率
通过合理设计,组装了一台稳态卡计法热辐射测量仪,它可以测量材料在173～373 K温度范围内的半球热辐,射率.本文对该装置进行了详细介绍和误差分析,并报道了多种卫星温度控制用热辐射材料和一种新型热致变色材料(thermochromic material)的半球总发射率测量结果.
作 者： 唐根初 于云 李莹 曹韫真 TANG Gen-chu YU Yun LI Ying CAO Wen-zhen 作者单位： 中国科学院上海硅酸盐研究所,上海,200050 刊 名： 低温物理学报 ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS 年，卷(期)： 2008 30(3) 分类号： O51 关键词： 发射率 稳态卡计法 涂层