圆柱形介质阻挡放电等离子体光谱诊断
在350～1150 nm范围内对开放空间Ar气介质阻挡放电等离子体的发射光谱进行测量,表明Ar发射谱线主要集中在680 nm～950 nm,且都为Ar原子谱线.采用发射光谱相对强度对比法,选取相距较近且有相同下能级的727.29 nm(2P2-1S4),738.40 nm(2P3-1S4) 和751.47 nm(2P5-1S4)三条光谱测量电子温度.通过对在Ar气和空气中放电谱线的对比和分析,得出发射光谱相对强度与电源功率的关系.最终得出若要便于工业应用和光谱测量,需要选择特定的气体流量和电源功率.
作 者： 马柳 时家明 袁忠才 张玮 MA Liu SHI Jia-ming YUAN Zhong-cai ZHANG Wei 作者单位： 电子工程学院安徽省红外与低温等离子体重点实验室,合肥,230037 刊 名： 光散射学报 ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF LIGHT SCATTERING 年，卷(期)： 2008 20(3) 分类号： O461 关键词： 介质阻挡放电 等离子体 光谱诊断 发射谱线