新型铋膜电极溶出伏安法测定痕量重金属元素

新型铋膜电极溶出伏安法测定痕量重金属元素

用碳纳米管-Nafion-铋膜修饰电极溶出伏安法测定了痕量重金属元素Pb(Ⅱ)和Cd(Ⅱ).考察并优化了同时测定Pb(Ⅱ)和Cd(Ⅱ)的条件.结果表明:在0.1 mol/ L HAc-NaAc缓冲溶液(pH=4.5)和-1.20 V条件下搅拌富集120 s,Pb(Ⅱ)和Cd(Ⅱ)在碳纳米管-Nafion-铋膜修饰电极上可得到灵敏的溶出峰;采用2.5次微分阳极溶出法测定时,预富集10 min的Pb(Ⅱ)检测限为10 ng/ L,Cd(Ⅱ)检测限为15 ng/ L.

作 者： 王娜 董献堆 WANG Na DONG Xian-dui   作者单位： 王娜,WANG Na(中国科学院长春应用化学研究所电分析化学国家重点实验室,吉林,长春,130022;中国科学院研究生院,北京,100039)

董献堆,DONG Xian-dui(中国科学院长春应用化学研究所电分析化学国家重点实验室,吉林,长春,130022) 

刊 名： 东北师大学报（自然科学版）  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF NORTHEAST NORMAL UNIVERSITY NATURAL SCIENCE EDITION  年，卷(期)： 2008 40(3)  分类号： O655  关键词： 碳纳米管   Nafion   铋膜电极   溶出伏安法  

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