基于面阵CCD的光电测量设备光学系统像面照度不均匀度测量系统
一直以来光电测量设备光学系统像面照度不均匀度检测都没有精确的测量设备和检测系统.介绍了光电测量设备光学系统像面照度不均匀度测量系统.该测量系统采用积分球作为均匀面光源,面阵CCD作为光电接受器.通过对CCD进行均匀性校正的方法实现了对光学系统像面照度不均匀度的定量评价,检测结果准确、可靠.
作 者： 王力 贺庚贤 沈湘衡 WANG Li HE Geng-xian SHEN Xiang-heng 作者单位： 王力,WANG Li(中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,长春,130033;中国科学院,研究生院,北京,100039)贺庚贤,沈湘衡,HE Geng-xian,SHEN Xiang-heng(中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,长春,130033)
刊 名： 光电子技术 ISTIC PKU 英文刊名： OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY 年，卷(期)： 2008 28(3) 分类号： O432.2 关键词： 像面照度不均匀度 光学镜头 CCD校正 积分球