ZnO粉末质子辐照损伤效应
文章研究了90 keV质子辐照作用下ZnO粉末的辐照损伤机制.ZnO粉末的质子辐照损伤方式以电离效应为主,质子辐照后ZnO粉末表面产生大量的氧空位型缺陷(Vo**,Voo*和Vo).氧空位型缺陷的产生是ZnO粉末光谱反射系数下降的主要原因.实验结果表明:质子辐照下,ZnO粉末光学性能退化主要发生在可见光区,在红外区间ZnO粉末光学性能退化不明显.
作 者： 李春东 施飞舟 杨德庄 何世禹 作者单位： 李春东,杨德庄,何世禹(哈尔滨工业大学,空间材料与环境工程实验室,哈尔滨,150001)施飞舟(上海航天技术研究院第805研究所,上海,201108)
刊 名： 航天器环境工程 ISTIC 英文刊名： SPACECRAFT ENVIRONMENT ENGINEERING 年，卷(期)： 2008 25(5) 分类号： V416.5 关键词： ZnO粉末 质子辐照 辐照损伤 氧空位