高分辨X射线衍射研究杂质对晶体结构完整性的影响
用水溶液生长晶体的方法生长出了不同掺杂的Sr(NO3)2晶体.用电子探针研究了杂质在晶体中的分布情况.结果表明,杂质在晶体中存在扇形分凝,其中Ba在{100}扇形区的含量大于{111}扇形区,而Pb的分凝情况相反,在{111}扇形区的含量大于{100}扇形区.用高分辨X射线衍射摇摆曲线技术研究了纯的、掺Ba的和掺Pb的Sr(NO3)2晶体的完整性情况,并用X射线衍射动力学理论计算了完整Sr(NO3)2晶体的高分辨X射线衍射摇摆曲线.结果表明纯Sr(NO3)2晶体的完整性很高,在扇形区内的摇摆曲线与理论计算结果很接近,但在扇形区的边界由于应力的存在而使得完整性有所降低.掺杂会降低Sr(NO3)2晶体的质量,并使得晶体完整性在不同的生长扇形区不一致.掺Ba的Sr(NO3)2晶体,其结构完整性在{111}生长扇形区比{100}生长扇形区高,而掺Pb的Sr(NO3)2晶体则相反,{100}生长扇形区的质量高于{111}生长扇形区,这与它们的扇形分凝特征一致.
吴立军(中国科学院物理研究所,北京,100080)
刊 名： 物理学报 ISTIC SCI PKU 英文刊名： ACTA PHYSICA SINICA 年，卷(期)： 2001 50(11) 分类号： O4 关键词： 高分辨X射线衍射 杂质 水溶液晶体生长