自拍外差混合光子相关谱与微粒粒径测量

自拍外差混合光子相关谱与微粒粒径测量

对实际微粒体系的自拍与外差混合的光子相关谱(PCS)进行了理论分析与模拟计算,结果表明用纯自拍或纯外差算法反演自拍与外差混合的PCS时得到的微粒粒径相对误差可迭100%.提出了一种从混合PCS反演微粒粒径的方法.搭建了一套能够产生混合PCS的模拟实验装置.用其分别对含有标称粒径为60nm和200hm的标准聚苯乙烯乳胶球微粒体系进行了测量.实验结果表明,用本丈提出的方法反演混合PCS得到的微粒粒径与标称值的相对误差均在5%以内.

作 者： 王少清 娄本浊 张军 金卫东 WANG Shao-qing LOU Ben-zhuo ZHANG Jun JIN Wei-dong   作者单位： 济南大学,理学院,济南,250022  刊 名： 光电工程  ISTIC PKU 英文刊名： OPTO-ELECTRONIC ENGINEERING  年，卷(期)： 2008 35(3)  分类号： O432.2  关键词： 动态光散射   颗粒粒度测量   光子相关谱   PCS  

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