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碲锌镉单晶片的退火方法
探索了一种Cd1-xZnxTe(CZT)探测器晶片退火的新装置和新方法,该装置可以方便有效的对CZT单晶片进行同组分源退火研究.利用XRD、红外透射谱和晶体电阻率表征了采用该装置在富Cd的同组分CZT粉末源包裹下,选择适宜的退火温度和时间进行退火后的CZT单晶片,晶片的电阻率有一定的提高,红外透过率有一定改善.XRD分析表明,经过退火后,CZT单晶片中的cd组分含量有一定增加.采用该方法退火后,晶体品质有一定提高.
作 者： 高德友 赵北君 朱世富 唐世红 何知宇 张冬敏 方军 程曦 GAO De-you ZHAO Bei-jun ZHU Shi-fu TANG Shi-hong HE Zhi-yu ZhANG Dong-min FANG Jun CHENG Xi 作者单位： 四川大学材料科学系,成都,610064 刊 名： 功能材料与器件学报 ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF FUNCTIONAL MATERIALS AND DEVICES 年，卷(期)： 2008 14(3) 分类号： O738 关键词： 碲锌镉单晶片 退火 电阻率 XRD 红外透射谱【碲锌镉单晶片的退火方法】相关文章：
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