弱控制参数的去边临界图研究

弱控制参数的去边临界图研究

图的束缚数是图的控制数研究中的一个重要方面,它在某种程度上反映了图的控制数对边数的敏感度,而去边临界图在图的束缚数研究中又极其重要.本文主要研究图的弱控制参数的去边正临界图(γ+ωER-critical)和去边负临界图(γ-ω-ER-critical),并分别给出了二次图为去边正临界图和去边负临界图的充要条件.

作 者： 吴亚平 范琼 WU Yaping FAN Qiong   作者单位： 吴亚平,WU Yaping(江汉大学,数学与计算机科学学院,武汉,430056;华中师范大学,数学与统计学院,武汉,430079)

范琼,FAN Qiong(华中师范大学,数学与统计学院,武汉,430079) 

刊 名： 华中师范大学学报（自然科学版）  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF CENTRAL CHINA NORMAL UNIVERSITY(NATURAL SCIENCES)  年，卷(期)： 2008 42(3)  分类号： O157.5  关键词： 弱控制   弱控制的束缚数   弱控制参数的去边正临界图   弱控制参数的去边负临界图